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深圳市金东霖科技有限公司 
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| x-ray膜厚测量仪 |
x-ray膜厚测量仪x射线膜厚仪是通过放射x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线，减少了对人体和周围环境的危害，从而是一种安全的膜厚仪，因此，各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是，由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的精确度，所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。
x-ray膜厚测量仪技术指标：
★ 型号：BOWMAN_BA 100
★ 元素分析范围：从AL到U
★ 一次性可同时分析多层镀层
★ 分析厚度检测出限*高达0.01um
★ 同时可分析多达5层以上镀层
★ 相互独立的基体效应校正模型，*先进厚度分析方法
★ 多次测量重复性*高可达0.01um
★ 长期工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）
★ 温度适应范围：15℃~30℃
★ 输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源） |
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