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供应x荧光半导体镀层测厚仪

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    博曼x荧光半导体镀层测厚仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。

在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。

快速、精确的分析:

大面积正比计数探测器和博曼仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供*佳灵敏度 

简单的元素区分:

通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱  

性能优化,可分析的元素范围大:

博曼x荧光半导体镀层测厚仪预置800多种容易选择的应用参数/方法 

卓越的长期稳定性:

自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果 

例行进行简单快 速的波谱校准,可自动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正 

坚固耐用的设计

可在实验室或生产线上操作 

坚固的工业设计 

博曼x荧光半导体镀层测厚仪结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

如果您有什么问题或要求,请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快!

 
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